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CFD-003电介质充放电测试系统生产
CFD-003型电介质充放电测试系统是一款专为测量储能电介质材料的充放电参数设计的测试系统，产品包含：控制主机+直流电源+数据采集系统组成，集成有变温系统。适用于介电陶瓷等电介质材料常变温下的欠、过阻尼及疲劳数据测量。 参考价面议 -
HCT182X介电温谱测试系统生产
HCT182X型高低温介电测试系统是一款极限温控范围-180℃~500℃ 的多功能型电学温控测量系统，可为测试样品提供精准的温度控制，兼容安捷伦，是德，稳科，同惠，志新等品牌的LCR表。适用于介电陶瓷、薄膜材料的介电温谱，频谱等测试。可配置4通道测量，可同环境对比数据，节省测量时间，真空度低至P*别，解决0℃数据无水峰；可实现惰性气氛，真空等环境测量。 参考价面议 -
BWD33-001变温D33测试仪生产
BWD33-001型准静态变温D33测量仪是一款专为测量压电系数的测试系统，能测试压电材料常、变温条件的压电系数；本测量仪由变温载样台和电子控制主机，通讯系统三部分组成，采用485通讯数据线连接。适用于圆片、圆管、半球壳、矩形等压电材料的测量。 参考价面议 -
HCT1820专用冷热台生产
HCT1820光/电学专用冷热台主要由温控主机，冷热载样台，液氮系统，水循环系统组成，可以选配不同温度区，测量环境可选择。适用于光电学性能测试。 参考价面议 -
CFD-003电介质充放电测试系统报价
CFD-003型电介质充放电测试系统是一款专为测量储能电介质材料的充放电参数设计的测试系统，产品包含：控制主机+直流电源+数据采集系统组成，集成有变温系统。适用于介电陶瓷等电介质材料常变温下的欠、过阻尼及疲劳数据测量。 参考价面议 -
HCT182X介电温谱测试系统报价
HCT182X型高低温介电测试系统是一款极限温控范围-180℃~500℃ 的多功能型电学温控测量系统，可为测试样品提供精准的温度控制，兼容安捷伦，是德，稳科，同惠，志新等品牌的LCR表。适用于介电陶瓷、薄膜材料的介电温谱，频谱等测试。可配置4通道测量，可同环境对比数据，节省测量时间，真空度低至P*别，解决0℃数据无水峰；可实现惰性气氛，真空等环境测量。 参考价面议 -
BWD33-001变温D33测试仪报价
BWD33-001型准静态变温D33测量仪是一款专为测量压电系数的测试系统，能测试压电材料常、变温条件的压电系数；本测量仪由变温载样台和电子控制主机，通讯系统三部分组成，采用485通讯数据线连接。适用于圆片、圆管、半球壳、矩形等压电材料的测量。 参考价面议 -
HCT1820专用冷热台报价
HCT1820光/电学专用冷热台主要由温控主机，冷热载样台，液氮系统，水循环系统组成，可以选配不同温度区，测量环境可选择。适用于光电学性能测试。 参考价面议 -
CFD-003电介质充放电测试系统多少钱
CFD-003型电介质充放电测试系统是一款专为测量储能电介质材料的充放电参数设计的测试系统，产品包含：控制主机+直流电源+数据采集系统组成，集成有变温系统。适用于介电陶瓷等电介质材料常变温下的欠、过阻尼及疲劳数据测量。 参考价面议 -
HCT182X介电温谱测试系统多少钱
HCT182X型高低温介电测试系统是一款极限温控范围-180℃~500℃ 的多功能型电学温控测量系统，可为测试样品提供精准的温度控制，兼容安捷伦，是德，稳科，同惠，志新等品牌的LCR表。适用于介电陶瓷、薄膜材料的介电温谱，频谱等测试。可配置4通道测量，可同环境对比数据，节省测量时间，真空度低至P*别，解决0℃数据无水峰；可实现惰性气氛，真空等环境测量。 参考价面议 -
BWD33-001变温D33测试仪多少钱
BWD33-001型准静态变温D33测量仪是一款专为测量压电系数的测试系统，能测试压电材料常、变温条件的压电系数；本测量仪由变温载样台和电子控制主机，通讯系统三部分组成，采用485通讯数据线连接。适用于圆片、圆管、半球壳、矩形等压电材料的测量。 参考价面议 -
HCT1820专用冷热台多少钱
HCT1820光/电学专用冷热台主要由温控主机，冷热载样台，液氮系统，水循环系统组成，可以选配不同温度区，测量环境可选择。适用于光电学性能测试。 参考价面议